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薄膜測厚儀
簡要描述：CH-1-ST型薄膜測厚儀:本測厚議適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。 本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
產(chǎn)品型號：CH-1-S- 廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間：2023-11-09
- 訪 問 量：1449
CH-1-S薄膜測厚儀的詳細(xì)資料：
CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù)：◎量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上測頭曲率半徑:15-50mm
◎測頭對試樣施加負(fù)荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內(nèi) <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):GB6672-86
◎本測厚儀適用于機(jī)械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度(不適用于壓花的薄膜和薄片).
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